介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
一、介电常数介质损耗试验仪概述

GDAT高频 Q 表作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz。
GDAT高频 Q 表采用了多项技术：

¤双扫描技术 - 测试频率和调谐电容的双扫描、自动调谐搜索功能。 ¤双测试要素输入 - 测试频率及调谐电容值皆可通过数字按键输入。 ¤双数码化调谐 - 数码化频率调谐，数码化电容调谐。 
¤自动化测量技术 -对测试件实施 Q 值、谐振点频率和电容的自动测量。 ¤全参数液晶显示 – 数字显示主调电容、电感、 Q 值、信号源频率、谐振指针。 ¤DDS 数字直接合成的信号源 -确保信源的高葆真，频率的高精确、幅度的高稳定。 
gdat高频Q表的创新设计，无疑为高频元器件的阻抗测量提供了*的解决方案，它给从事高频电子设计的工程师、科研人员、高校实验室和电子制造业提供了更为方便的检测工具
，测量值更为精确，测量效率更高。使用者能在仪器给出的任何频率、任意点调谐电容值下检测器件的品质，无须关注量程和换算单位。 

一、介电常数介质损耗试验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；

仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。

它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。

 
  主要技术特性  
¤Q 值测量范围  2 ～ 1023 ，¤ 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，¤自动换档或手动换档  固有误差  ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）  ¤工作误差  ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）  ¤电感测量范围  4.5nH ～ 140mH  ¤电容直接测量范围  1 ～ 200pF  ¤主电容调节范围  18 ～ 220pF  ¤主电容调节准确度  100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％  ¤信号源频率覆盖范围  100kHz ～ 160MHz  ¤频率分段 （ 虚拟 ）  100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz  
¤频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  

搭配了全新的介质损耗装置与GDAT系列q表搭配使用
一 . 概述

BD916介质损耗测试装置与本公司生产的各款高频Q表配套，可用于测量绝缘材料的介电常数和介质损耗系数（损耗角正切值）。

BD916介质损耗测试装置是BD916914的换代产品，它采用了数显微测量装置，因而读数方便，数据精确。
¤测试装置由一个LCD数字显示微测量装置和一对间距可调的平板电容器极片组成。
¤平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。
¤BD916介质损耗测试装置须配用Q表作为调谐指示仪器，通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化，测得绝缘材料的损耗角正切值。
¤从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。 

BD916介质损耗测试装置技术特性 

平板电容器： 极片尺寸：Φ50mm/Φ38mm 可选  
1.极片间距可调范围：≥15mm 2. 夹具插头间距：25mm±0.01mm 3. 夹具损耗正切值≤4×10-4 （1MHz） 4．测微杆分辨率：0.001mm