一、介电常数介质损耗试验仪概述

GDAT高频 Q 表作为一代的通用、多用途、多量程的阻抗测试仪器，测试频率上限达到目前高的160MHz。该仪器用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。 

  主要技术特性  
Q 值测量范围  2 ～ 1023 ， 量程分档： 30 、 100 、 300 、 1000 ，自动换档或手动换档  
固有误差  ≤ 5 ％ ± 满度值的 2 ％（ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤6％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）  
工作误差  ≤7％ ± 满度值的2％ （ 200kHz ～ 10MHz ）， ≤8％ ± 满度值的2％（10MHz～160MHz）  
电感测量范围  4.5nH ～ 140mH  
电容直接测量范围  1 ～ 200pF  
主电容调节范围  18 ～ 220pF  
主电容调节准确度  100pF 以下 ± 1pF ； 100pF 以上 ± 1 ％  
信号源频率覆盖范围  100kHz ～ 160MHz  
频率分段 （ 虚拟 ）  100 ～ 999.999kHz ， 1 ～ 9.99999MHz,10 ～ 99.9999MHz ， 100 ～ 160MHz  
频率指示误差  3 × 10 -5 ± 1 个字  

介电常数Σ的测试
a. 再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变Q 表上的主调电容容
量，使Q 表处于谐振点上。
b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，此时调节平板电容器，
使Q 表再回到谐振点上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4
c. 计算被测样品的介电常数：
                       Σ＝D2 / D4

2．介质损耗系数的测试

a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。把被测样品插入二极片之间，改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表处于谐振点上，读得Q 值，记为Q2。电容读数记为C2。

b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，再改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表重新处于谐振点上。读得Q 值，记为Q1。电容读数记为C1。

c. 然后取下测试装置，再改变Q 表上的主调电容容量，重新使之谐振，电容读数记为C3，此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 －C1

d. 计算被测样品的介质损耗系数

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式中：CZ 为测试装置的电容（平板电容器二极片间距为样品的厚度D2）
C0 为测试电感的分布电容（参考LKI-1 电感组的分布电容值）