Q值测量 ：2～1023。 Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。

频率范围：20kHz～10MHz 10MHz～50MHz

频率分段  ：10～99.9999kHz；100～999.999kHz；1～9.99999MHz；10～60MHz  

电容测量：1~ 460
直接测量范围：1～460pF
主电容调节范围准确度：30～500pF；150pF以下±1.5pF；150pF以上±1％  

介电常数介质损耗试验仪满足标准：GBT 1409-2006测量电气绝缘材料在工频、音频、高频（包括米波波长在内）下电容率和介质损耗因数的推荐方法
     GDAT-A       
详细资料：
 一、   介电常数介质损耗试验仪概述
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷，还有复合材料等的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；仪器的基本原理是采用高频谐振法，并提供了，通用、多用途、多量程的阻抗测试。它以单片计算机作为仪器的控制，测量核心采用了频率数字锁定，标准频率测试点自动设定，谐振点自动搜索，Q值量程自动转换，数值显示等新技术，改进了调谐回路，使得调谐测试回路的残余电感减至zui低，并保留了原Q表中自动稳幅等技术，使得新仪器在使用时更为方便，测量值更为精确。仪器能在较高的测试频率条件下，测量高频电感或谐振回路的Q值，电感器的电感量和分布电容量，电容器的电容量和损耗角正切值，电工材料的高频介质损耗，高频回路有效并联及串联电阻，传输线的特性阻抗等。
介电常数介质损耗试验仪用于科研机关、学校、工厂等单位对无机非金属新材料性能的应用研究。

二、技术指标

频率范围：20kHz～10MHz；

固有误差：≤5％±满度值的2％；

工作误差：≤7％±满度值的2％；

频率范围：10MHz～60MHz；

固有误差：≤6％±满度值的2％；

工作误差：≤8％±满度值的2％。

电感测量范围：14.5nH~8.14H

电感：

线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值  

  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH             
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH
   

 介电常数介质损耗测试准备工作先要详细了解配用Q表的使用方法，操作时，要避免人体感应的影响。

a. 把配用的Q表主调谐电容置于较小电容量。
b. 把本测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端子上。
c. 配上和测试频率相适应的高Q值电感线圈（本公司 Q表配套使用的LKI-1电感组能满足要求），      

                          如：1MHz 时电感取250uH，15MHz时电感取1.5uH。

d. 短按ON/OFF按键，打开液晶显示屏。
e. 调节平板电容器测微杆，使平板电容器二极片相接为止，长按SET按键将初始值设置为0。

4．介电常数Σ的测试

a. 再松开二极片，把被测样品插入二极片之间，调节平板电容器，到二极片夹住样品止（注意调节时要用测微杆，以免夹得过紧或过松），这时能读取的测试装置液晶显示屏上的数值，既是样品的厚度D2。改变Q 表上的主调电容容
量，使Q 表处于谐振点上。
b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，此时调节平板电容器，使Q 表再回到谐振点上，读取测试装置液晶显示屏上的数值记为D4
c. 计算被测样品的介电常数：
                           Σ＝D2 / D4

5．介质损耗系数的测试
a. 重新把测试装置上的夹具插头插入到Q 表测试回路的“电容”两个端上。把被测样品插入二极片之间，改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表处于谐振点上，读得Q 值，记为Q2。电容读数记为C2。
b. 取出平板电容器中的样品，这时Q 表又失谐，再改变Q 表上的主调电容容量，使Q 表重新处于谐振点上。读得Q 值，记为Q1。电容读数记为C1。
c. 然后取下测试装置，再改变Q 表上的主调电容容量，重新使之谐振，电容读数记为C3，此时可计算得到测试装置的电容为CZ = C3 －C1
d. 计算被测样品的介质损耗系数

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式中：CZ 为测试装置的电容（平板电容器二极片间距为样品的厚度D2）
C0 为测试电感的分布电容（参考LKI-1 电感组的分布电容值）