c类介电常数和介质损耗测试仪由Q表、测试装置，电感器及标准介质样品组成，能对绝缘材料进行高频介质损耗角正切值（tanδ）和介电常数（ε）的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

基于串联谐振原理的《GDAT高频Q表》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的zui高成就，
随之带来了频率、电容双扫描GDAT的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、
电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-
160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值（tanδ）和介
电常数（ε），把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取zui高的测试灵
敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。

◎ 测试装置符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及IEC60250规范要求。

2 主要技术指标：

2.1 tanδ和ε性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率10kHz～120MHz的tanδ和ε变化的测试。

2.1.2 tanδ和ε测量范围：

      tanδ：0.1～0.00005，ε：1～50

2.1.3 tanδ和ε测量精度（1MHz）：

      tanδ：±5%±0.00005，ε：±2%

2.2 Q表

2.3 介质损耗装置：

2.3.1 平板电容器极片尺寸：
    c类:Φ38mm和Φ50mm二种.
    c类:Φ38mm .
2.3.2 平板电容器间距可调范围和分辨率：
      0～8mm， ±0.01mm
2.3.3 圆筒电容器线性： 
      0.33 pF /mm±0.05 pF, 
2.3.4 圆筒电容器可调范围：
      ±12.5mm（±4.2pF）
2.3.5 装置插头间距：
      25mm±0.1mm
2.3.6 装置损耗角正切值:
      ≤2.5×10-4

2.5 高频介质样品（选购件）：
  在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

电感:

线圈号    测试频率    Q值    分布电容p       电感值  
  9         100KHz      98       9.4           25mH
  8         400KHz     138       11.4        4.87mH
  7         400KHz    202       16           0.99mH
  6           1MHz     196       13          252μH
  5           2MHz     198       8.7        49.8μH
  4         4.5MHz    231       7             10μH 
  3          12MHz      193     6.9         2.49μH
  2          12MHz      229     6.4        0.508μH
             
  1   25MHz，50MHz   233，211    0.9       0.125μH