薄膜工频介电常数测试仪北京供应商GDAT-A－北京北广精仪仪器设备有限公司

薄膜工频介电常数测试仪北京供应商

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型号：GDAT-A

更新时间：2024-11-21 | 阅读：1825

详情介绍

介电常数测试仪由高频阻抗分析仪、测试装置，标准介质样品组成，能对绝缘材料进行

高低频介电常数(ε)和介质损耗角(D或tanδ) 的测试。它符合国标GB/T 1409-2006,美标ASTM D150以及

IEC60250规范要求。

GDAT 系列介电常数测试仪工作频率范围是20Hz～1MHz,它能完成工作频率内对绝缘材料的相对介

电常数(ε)和介质损耗角 (D或tanδ)变化的测试。

GDAT系列中测试装置是由平板电容器组成，平板电容器一般用来夹被测样品，配用高频阻抗分析

仪作为指示仪器。绝缘材料的介电常数和损耗值是通过被测样品放入平板电容器和不放样品的D值(损耗

值)变化和Cp（电容值）读数通过公式计算得到。

1 特点：

◎ 高频阻抗分析仪电容值Cp分辨率0.00001pF和6位D值显示，保证了ε和D值精度和重复性。

◎ 介电常数测量范围可达1～10⁵

2 主要技术指标：

2.1 ε和D性能：

2.1.1 固体绝缘材料测试频率20Hz～1MHz的ε和D变化的测试。
2.1.2 ε和D测量范围：ε：1～10⁵，D：0.1～0.00005，
2.1.3 ε和D测量精度（10kHz）：ε：±2% ， D：±5%±0.0001。

2.2高频阻抗分析仪和数字电桥

高频介质样品（选购件）：

在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。

GDAT系列 介电常数测试仪配置

选购件：

在现行高频介质材料检定系统中，检定部门为高频介质损耗测量仪提供的测量标准是高频标准介质

样品。该样品由人工蓝宝石，石英玻璃，氧化铝陶瓷，聚四氟乙烯，环氧板等材料做成Φ50mm，厚

1～2mm测试样品。用户可按需订购，以保证测试装置的重复性和准确性。